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中科院自动化研究所:RFID技术专利获美国授权

2014-2-20 06:25| 发布者: 网友投稿

简介:近日,由中科院自动化研讨所谭杰研讨员等人研讨发觉的Method and Apparatus for Testing the Perfor


近日,由中科院自动化研讨所谭杰研讨员等人研讨发觉的Method and Apparatus for Testing the Performance of Radio Frequency Identification System(PCT专利号:PCT/CN2010/002054、美国专利号:13/143,041)在美国取得授权。该发觉专利于2010年经由过程请求国际PCT路子,于2011年请求进入美国,并于近日取得授权。它是自动化所首个经由过程国际PCT路子在美国取得授权的专利。


该发觉专利是高速运动电子标签的射频利用系统功能的测试系统和编制,由读写器发射天线、频谱阐明仪领受天线、待测电子标签、读写器天线支架、待测读写器、频谱阐明仪、掌握合计机、驱念头电掌握器、驱念头电、转盘、防护罩、支撑台组成,其编制是经由过程驱念头电带动转盘,使固接在转盘上的待测电子标签以高速运动,操纵电子标签在转盘切线标的手段的速度来模拟理想利用中电子标签直线运动速度,从而科学的、可反复的对电子标签在高速运动形状下的RFID利用系统功能停止评价。


随着RFID的利用规模越来越大,RFID天线和读写器的品种越来越多,为了在浩瀚的RFID读写器和标签当挑选最适合使用者需求的产物,需求对RFID产物的功能目标停止特地的测试。在智能停车场、高速公路不断车免费等理想利用中,RFID读写器和标签之间具有快速绝对运动。保守高速运动形状下RFID产物功能测试系统和编制具有占用空间大、扶植成本高、尝试过程不不变等错误谬误。针对保守编制的错误谬误,该项专利提出的一种电子标签在高速运动形状下的RFID利用系统功能基准测试系统及编制,该系统和编制能在测试过程中较好的复原实在测试场景。为使用者供给一种复杂、明确、有用的自动化测试对象和基准测试编制,用以在可反复条件下快速评价电子标签处于高速运动形状利用途景中RFID利用系统功能,从而为使用者装备选型供给决定计划参考。


作为物联网的焦点手艺之一,RFID手艺有广阔广大豪放的利用前景和庞杂的利用价值。RFID功能测试装备和手艺能为用户装备选型供给决定计划参考,是RFID手艺理想利用的根本。该项专利提出的系统及编制可以或许为用户供给一种复杂、明确、有用的自动化测试编制。有助于提升我国在RFID领域自立立异才干,属于支撑我国高手艺工业与新兴工业生长的手艺领域,适合伙助经管编制。


该项专利已在中国和美国都取得正式授权,从而增强了我国在RFID功能测试方面的协作力,完善了我国RFID测试手艺专利池,为未来介入RFID国际测试尺度拟定争取了更多话语权。

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