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科学家找到处理量子计较中退相关题目标新方式

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 楼主| 钴惆 发表于 2021-9-8 13:39:21 | 显示全部楼层 |阅读模式 打印 上一主题 下一主题
物理学家和工程师已经找到了一种方式,来识别息争决商用量子计较中的材料缺点。由彼得·雅各布森(Peter Jacobson)博士带领的团队发现,在量子计较制造进程中引入的不完善会下降电路的有用性。他说:“超导量子电路正在吸引Google和IBM等行业巨头的爱好,但普遍的利用遭到了‘退相关’的障碍,这类现象会致使信息丧失”。


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退相关主如果由于超导电路和硅芯片之间的相互感化--一个物理学题目,以及在制造进程中引入的材料缺点--一个工程题目配合致使的。Peter Jacobson 暗示:“是以,我们需要团结物理学家和工程师来找到一个处理方百铮

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该团队利用了一种被称为太赫兹扫描近场光学显微镜(THz SNOM)的方式,连系了原子力显微镜与太赫兹光源和探测器。这供给了一个高空间分辨率的组合,可观察小到病毒的纤细结构并实现部分光谱丈量。

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AleksandAR Raki 教授说,该技术经过将光聚焦到金属尖端,实现了在纳米标准而非宏观标准的探测。Raki 教授说:“这为我们领会不完善的位置供给了新的路子,是以我们可以削消退相关,并帮助削减超导量子装备的损失”。

他继续暗示:“我们发现,常用的制造配方无意中在硅芯片中引入了缺点,这有助于退相关的发生。而且我们还表白,概况处置可以削减这些缺点,这反过来又削减了超导量子电路的损失”。

Arkady Fedorov 副教授说,这使得该团队可以肯定在工艺中那里引入了缺点,并优化制造协议以处理这些缺点。Fedorov 博士说:“我们的方式答应对同一个器件停止屡次探测,而其他方式凡是需要在探测前将器件切割开来。团队的成果供给了一条改良超导装备用于量子计较利用的路子”。


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